












測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/100重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測(cè)量精度
2.5+L/200重復(fù)精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場(chǎng)
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
測(cè)量精度
重復(fù)精度
總放大倍率
物方視場(chǎng)
工作距離
光柵尺解析度

新聞資訊
News時(shí)間:06-20 2023 來(lái)自:祥宇精密
在現(xiàn)代制造業(yè)中,精度是至關(guān)重要的因素。為了確保產(chǎn)品的精度和質(zhì)量,需要使用各種測(cè)量工具。三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x和影像測(cè)量?jī)x是兩種常用的測(cè)量工具。它們都可以實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量結(jié)果,但它們之間存在一些差異。本文將介紹三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x和影像測(cè)量?jī)x的區(qū)別。
一、三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x是一種測(cè)量設(shè)備,用于測(cè)量三維物體的形狀和位置。它利用機(jī)械臂、探針和電子計(jì)算機(jī)等組成元件,可精確地測(cè)量物體的長(zhǎng)度、寬度和高度。三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的探頭可以接觸到物體表面,通過(guò)探頭與加工程序的配合,可以制定加工方案,輔助生產(chǎn)過(guò)程的控制,從而提高生產(chǎn)效率。
三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x采用的是接觸式測(cè)量原理,在測(cè)量時(shí)需要將探針接觸到被測(cè)物體上,進(jìn)行點(diǎn)對(duì)點(diǎn)的測(cè)量。這種測(cè)量方式與人工操作相關(guān),需要有專業(yè)的技術(shù)人員進(jìn)行操作。同時(shí),由于接觸式測(cè)量會(huì)對(duì)被測(cè)物體造成微小的痕跡而影響產(chǎn)品質(zhì)量。
二、影像測(cè)量?jī)x
影像測(cè)量?jī)x是一種通過(guò)攝像頭和圖像處理軟件來(lái)進(jìn)行非接觸式測(cè)量的設(shè)備。它可以用于測(cè)量各種形狀和尺寸的物體,無(wú)需直接接觸物體表面。影像測(cè)量?jī)x的探頭是由高分辨率的相機(jī)和光源組成,可以捕捉到物體的影像,然后通過(guò)圖像處理算法來(lái)計(jì)算出物體的尺寸、角度和輪廓等信息。
影像測(cè)量?jī)x采用非接觸式測(cè)量原理,不會(huì)對(duì)被測(cè)物體造成任何影響,同時(shí)具有高精度、高速度、高效率的優(yōu)勢(shì)。操作簡(jiǎn)單易學(xué),只需將物品放在測(cè)試臺(tái)上,使用軟件或者手機(jī)連接即可快捷精確地完成測(cè)量。
三、兩者的比較
1. 測(cè)量原理:三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x采用接觸式測(cè)量原理,需要接觸物體表面,而影像測(cè)量?jī)x采用非接觸式測(cè)量原理,不需要接觸物體表面。
2. 測(cè)量精度:三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x和影像測(cè)量?jī)x都可以實(shí)現(xiàn)高精度的測(cè)量結(jié)果,但是在某些情況下,三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的精度更高。
3. 測(cè)量范圍:三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x適用于小型、高精度的零件測(cè)量,而影像測(cè)量?jī)x適用于大型、非常規(guī)形狀的物體測(cè)量。
4. 操作難易度:三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x需要有專業(yè)技術(shù)人員進(jìn)行操作,而影像測(cè)量?jī)x的操作簡(jiǎn)單易學(xué)。
5. 影響因素:三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x的測(cè)量精度受到環(huán)境、操作者技能和設(shè)備本身等因素的影響。
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